やまぐちイノベーション創出推進拠点

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【TEM】透過型電子顕微鏡システム

 装置概要

バイオからマテリアルまであらゆる分野での研究・開発を支援することができます。
STEM(走査像観察装置 )や EDS(エネルギー分散形 X線分析 )を搭載しており、高感度、高分解能分析が可能です。新設計のゴニオメータステージを採用し、 長時間の安定した観察、分析が可能です。

● バージョン:高分解能構成
● ポールピース:HRP
● 倍率:×1,500,000
● 分解能:粒子像 0.23nm 格子像 0.14nm
● 加速電圧 (kV ):80,100,120,160,200
● 試料傾斜角 (X/Y):±35/30°
● EDS:立体角(30mm² ) 0.13sr
● EDS:取出角(30mm² ) 25°

 メーカー・規格

日本電子株式会社 JEM-2100

透過型電子顕微鏡システム
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